| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾X射線測厚儀Fischer
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特性：
■X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務
■由于測量距離可以調節(jié)（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
■通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試
■使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY應用：鍍層厚度測量
■大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
■電路板上較薄的導電層和/或隔離層
■復雜幾何形狀產品上的鍍層
■鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
■氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
材料分析
■電鍍槽液分析
■電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析
蘇公網安備32021402002648
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