菲希爾XAN215 FISCHER

簡要描述：

菲希爾XAN215 FISCHER，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER鍍層測厚儀，菲希爾臺式測厚儀

更新時間：2024-08-16

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廠商性質：經銷商

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產品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產地類別	進口	應用領域	環(huán)保,綜合

菲希爾XAN215 FISCHER

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215無錫駿展儀器供應菲希爾X射線測厚儀是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

通用規(guī)格
設計用途	采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF），用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。
重復性	測量金元素時≤1‰，測量時間60秒
形式設計	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由下往上
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓	三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）	φ1mm；可選φ2mm
測量點尺寸	當測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器	采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器
能量分辨率（Mn元素Kα半高寬）	≤180eV
測量距離	0...10mm
測量距離	通過DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。

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